1.X射线光源:Cu靶,陶瓷X光管,电压≤60kV,电流≤60mA。
2.测角仪:高精度,2θ测试范围:-10~168°,最小步长0.0001°。
3.探测器:有效面积14mm*16mm;能量分辨率:12.5%;最小像素尺寸:75μm;可有效去除Fe、Co、Ni、Mn等元素的荧光背底。
4.标准样品台:适用于多晶粉末、块体定性定量等常规测试。
5.尤拉环样品台:可完成常规物相分析、薄膜分析、织构应力分析。
1.标准样品台和尤拉环样品台
2.小角散射附件
3.45位自动进样器
4.配备物相检索软件:配备COD数据库
5.配备物相定量DIFFRAC.EVA软件
6.配备DIFFRAC.TOPAS软件,具备无标样晶粒大小分析及微观应力分析功能
测试项目:常规广角粉末(块体、薄膜)测试(慢扫、快扫)、薄膜掠入射、织构测试、残余应力测试、小角散射、毛细管样品测试
分析项目:物相检索、无标定量、精修等(提供相应软件免费使用,需自行操作,暂不提供相应指导)
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