加速电压: 200 KV; 电子枪:肖特基热场发射超亮电子枪; TEM点分辨率:0.25 nm; TEM信息分辨率: 0.12 nm; STEM分辨率: 0.16 nm; 样品倾斜角度X/Y:±30°; 能谱能量分辨率:136 ev; 元素检测范围:B~U元素。
TEM;能谱仪;STEM;三维重构。
1. 对各种材料内部微结构进行观察;
2. 粉末、纳米颗粒形貌和粒径观察;
3. 选区电子衍射和晶体结构分析;
4. 金属、陶瓷、半导体、塑料、等显微结构分析;
5. 配合能谱仪可以对样品元素做面分布分析,以及各种元素进行定性和半定量微区分析,元素检测范围:B~U元素;
6. 利用三维样品杆可以实现三维重构。
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